RF Malungtaron Ubos nga Pagsal-ot Pagkawala Wafer Test Probes

1. Pagsulay sa RF circuit:
Ang RF probes mahimong konektado sa test point sa RF circuit, pinaagi sa pagsukod sa amplitude, phase, frequency ug uban pang mga parameter sa signal aron masusi ang performance ug stability sa circuit.Mahimo kini gamiton sa pagsulay sa RF power amplifier, filter, mixer, amplifier ug uban pang RF circuits.
2. Pagsulay sa sistema sa komunikasyon sa wireless:
Ang RF probe mahimong magamit sa pagsulay sa wireless nga komunikasyon nga mga himan, sama sa mga mobile phone, Wi-Fi routers, Bluetooth device, ug uban pa. ang pagtipas mahimong masukod aron sa pagtimbang-timbang sa performance sa device ug paggiya sa pag-debug ug pag-optimize sa sistema.
3. Pagsulay sa RF antenna:
Ang RF probe mahimong magamit sa pagsukod sa mga kinaiya sa radiation sa antenna ug input impedance.Pinaagi sa paghikap sa RF probe sa istruktura sa antenna, ang VSWR (voltage standing wave ratio) sa antenna, mode sa radiation, ganansya ug uban pang mga parameter mahimong masukod aron masusi ang pasundayag sa antenna ug ipatuman ang disenyo ug pag-optimize sa antenna.
4. Pag-monitor sa signal sa RF:
Ang RF probe mahimong magamit aron mamonitor ang pagpadala sa mga signal sa RF sa sistema.Mahimo kini gamiton aron mahibal-an ang paghinay sa signal, interference, pagpamalandong ug uban pang mga problema, makatabang sa pagpangita ug pag-diagnose sa mga sayup sa sistema, ug paggiya sa katugbang nga pagmentinar ug pag-debug nga trabaho.
5. Pagsulay sa electromagnetic compatibility (EMC):
Ang mga pagsusi sa RF mahimong magamit sa paghimo sa mga pagsulay sa EMC aron masusi ang pagkasensitibo sa mga elektronik nga aparato sa pagpanghilabot sa RF sa palibot nga palibot.Pinaagi sa pagbutang og RF probe duol sa device, posible nga sukdon ang tubag sa device ngadto sa external RF fields ug pagtimbang-timbang sa performance sa EMC niini.